近紅外（SWIR）光一般定義為0.9－1.7μm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光線(xiàn)，但也可歸入0.7－2.5μm波長(zhǎng)范圍。由于硅傳感器的上限約為1.0μm，SWIR成像需要能在SWIR范圍內(nèi)工作的獨(dú)特組件。砷化銦鎵（InGaAs）傳感器是在SWIR中使用的主要傳感器，可覆蓋典型的SWIR頻帶，但可擴(kuò)展低至550nm和高至2.5μm。雖然市場(chǎng)上可提供線(xiàn)性線(xiàn)掃描InGaAs傳感器，但區(qū)域掃描InGaAs傳感器一般受到ITAR限制，只能用于特定商業(yè)應(yīng)用，且必須獲得適當(dāng)許可。SWIR成像透鏡可根據(jù)SWIR波 長(zhǎng)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)、優(yōu)化和進(jìn)行抗反射鍍膜（鍍減反膜）。ITAR（國(guó)際條約和武器條例）由美國(guó)政府實(shí)施。 受ITAR限制的產(chǎn)品必須遵守嚴(yán)格的出入口條例，才可在美國(guó)境內(nèi)和境外制造和/或銷(xiāo)售。然而，如SWIR之類(lèi)的透鏡可在具有適當(dāng)許可證的情況下用于許多商業(yè)應(yīng)用。

圖 1: 說(shuō)明SWIR波長(zhǎng)范圍的電磁光譜

物體本身就可以輻射出中紅外（MIR）和遠(yuǎn)紅外（LWIR）光，近紅外（SWIR）和可見(jiàn)光比較類(lèi)似，所發(fā)出的光子都會(huì)被物體反射或吸收，如果需要呈高對(duì)比 度的像則需要分辨率更高。周?chē)h(huán)境的星點(diǎn)光以及背景輻射(夜間發(fā)光)會(huì)發(fā)射近紅外光并提供較好的戶(hù)外照明，夜視成像。

必須使用根據(jù)SWIR波段設(shè)計(jì)和鍍膜的透鏡（使用設(shè)計(jì)并鍍有SWIR膜層的鏡頭很有必要）。設(shè)計(jì)用于可見(jiàn)光的透鏡（鏡頭在SWIR波段成像），會(huì)導(dǎo)致低影像 分辨率（分辨率大幅下降）和高光學(xué)像差（且光學(xué)像差變大）。由于SWIR波長(zhǎng)傳輸通過(guò)的專(zhuān)為SWIR設(shè)計(jì)的玻璃、透鏡和其他光學(xué)組件（濾光片、窗口片等） 可以使用與可見(jiàn)光組件相同的工藝制造，因此可降低制造成本，在系統(tǒng)內(nèi)使用保護(hù)性窗口片和濾光片。

大量使用可見(jiàn)光難以或無(wú)法實(shí)施的應(yīng)用可通過(guò)SWIR完成。當(dāng)使用SWIR成像時(shí)，水蒸氣、霧和硅等特定材料均為透明。此外，在可見(jiàn)光環(huán)境下近乎相同的顏色 使用SWIR可輕松區(qū)分。

SWIR應(yīng)用 SWIR成像廣泛用于各種不同的應(yīng)用，包括電子板檢查、太陽(yáng)能電池檢測(cè)、生產(chǎn)檢查、識(shí)別與排序、監(jiān)測(cè)、反假冒、過(guò)程質(zhì)量控制等。要了解SWIR成像的優(yōu)勢(shì)，可考慮一些使用可見(jiàn)光和使用SWIR成像的普通日常用品的視覺(jué)范例。